КаталогАктивные компонентыСборочный материал для полупроводниковТестовые держатели и клипсыТестовые гнезда224-1275-00-0602J

224-1275-00-0602J, Тестовый разъем микросхемы, DIL 24, 3M

Арт: 148-17-151
  • добавить в избранное
  • Арт: 148-17-151
  • Наименование: 224-1275-00-0602J
  • Производитель: 3M
  • Доп.наименование: Тестовый разъем микросхемы, DIL 24
  • Склад:
    Изображение товара дано только в качестве иллюстрации. См. спецификацию продукта (pdf)

    Тестовый разъем микросхемы, DIL
    Старый арт.: 48-171-51
    Нулевое усилие для вставки Цикл — 50 000 вставок Широкое отверстие для штекера Семейство Тестовый разъем DIL, 14-64-полюсный Технические параметры
    • C: 27.9 mm
    • G: 15.2 mm
    • H: 23 mm
    • J: 11.5 mm
    • K: 40.8 mm
    • Шаг: 2.54 mm
    • Материал изолятора: Полисульфон, упрочненный стеклопластиком
    • Рабочая температура, мин.: -55 °C
    • Материал внутреннего контакта: BeCu
    • Внутренняя поверхность контакта: 1.3 μm Ni + 0.76 μm Au
    • Контакты: 24
    • Рабочая температура: -55...+150 °C
    • Номинальный ток: 1 A
    • Рабочая температура, макс.: +150 °C
    • B: 45.5 mm
    • Сопротивление изоляции: 1000 MΩ



    Задать вопрос

    Ваше имя*
    Ваш E-mail*
    Сообщение*
    Защита от автоматических сообщений
    CAPTCHA
    Введите слово на картинке*