Список комплектующих, который есть на нашем складе в Санкт-Петербурге и доступен для заказа.
Подробнее

КаталогАктивные компонентыСборочный материал для полупроводниковТестовые держатели и клипсыТестовые гнездаIC51-1004-809

IC51-1004-809, Тестовый разъем микросхемы, раскладной SQFP-100, YAMAICHI

Арт: 148-12-370
IC51-1004-809, Тестовый разъем микросхемы, раскладной SQFP-100, YAMAICHI
  • добавить в избранное
  • Арт: 148-12-370
  • Наименование: IC51-1004-809
  • Производитель: YAMAICHI
  • Доп.наименование: Тестовый разъем микросхемы, раскладной SQFP-100
  • Склад:
    Изображение товара дано только в качестве иллюстрации. См. спецификацию продукта (pdf)
    Заказать Цены указаны без НДС

    Тестовый разъем микросхемы, раскладной
    Тестовая и термотренировочная база для корпуса SQFP Семейство Тестовый разъем и разъем для термоциклирования для корпуса QFP/SQFP Технические параметры
    • G: 36 мм
    • h: 39 мм
    • Шаг: 0.5 мм
    • Для корпуса: SQFP-100
    • Номинальный ток: 1 А
    • Материал изолятора: PES
    • Рабочая температура: -55...+170 °C
    • Сопротивление изоляции: ≥1000 MΩ
    • Сопротивление контакта: ≤30 mΩ
    • Материал корпуса контакта: BeCu
    • Рабочая температура, мин.: -55 °C
    • Рабочая температура, макс.: +170 °C