Испытательные зажимы микросхемы
Тестирование интегрированных цепей в двухрядном корпусе в условиях функционирования Неверная установка исключена, поэтому отсутствует риск возникновения короткого замыкания Соединительные штырьки для Mini-Houks, сканирующих головок, соединений плоского кабеля или с помощью шляпок гвоздей Контакты: Сплав 770 Newsilver (Cu, Ni, Ag) Без окисления Семейство Тестовые зажимы для микросхем с двухрядным расположением выводов Технические параметры
- Контакты: 20
- Для корпуса: DIL-20
- Конструкция: Со свободными концами
- Расстояние между рядами: 7.62 мм
- Материал корпуса контакта: Сплав 770 Newsilver (Cu, Ni, Ag)