КаталогАктивные компонентыСборочный материал для полупроводниковТестовые держатели и клипсыТестовые гнездаIC120-0444-306

IC120-0444-306, Тестовый разъем микросхемы, разомкнутый верх, PLCC 44, YAMAICHI

Арт: 148-12-342
  • добавить в избранное
  • Арт: 148-12-342
  • Наименование: IC120-0444-306
  • Производитель: YAMAICHI
  • Доп.наименование: Тестовый разъем микросхемы, разомкнутый верх, PLCC 44
  • Склад:
    Изображение товара дано только в качестве иллюстрации. См. спецификацию продукта (pdf)

    Тестовый разъем микросхемы, разомкнутый верх, PLCC
    Старый арт.: 48-123-42
    Тестовый разъем PLCC, 28-84-полюсный Семейство Тестовый разъем PLCC, 28-84-полюсный Технические параметры
    • A: 28 mm
    • C: 19.3 mm
    • Материал изолятора: PPS + PEI
    • Материал корпуса контакта: BeCu
    • Рабочая температура, мин.: -40 °C
    • Поверхность муфты контакта: Ni + Au
    • Контакты: 44
    • Рабочая температура: -40...+170 °C
    • Номинальный ток: 1 A
    • Рабочая температура, макс.: +170 °C
    • B: 28 mm
    • Сопротивление изоляции: 1000 MΩ
    • Сопротивление контакта: ≤30 mΩ



    Задать вопрос

    Ваше имя*
    Ваш E-mail*
    Сообщение*
    Защита от автоматических сообщений
    CAPTCHA
    Введите слово на картинке*